ANGGRIANI, FRANCISKA (2017) PENGENDALIAN KUALITAS MESIN WAFER STICK WS4RW PADA PT. X MENGGUNAKAN ANALISA FMEA DAN METODE FTA (STUDI KASUS MANUFAKTUR MESIN WAFER). S1 thesis, Universitas Mercu Buana Jakarta.
|
Text (HAL COVER)
1) Hal Cover.pdf Download (451kB) | Preview |
|
|
Text (ABSTRAK)
2) Abstrak.pdf Download (211kB) | Preview |
|
![[img]](https://repository.mercubuana.ac.id/style/images/fileicons/text.png) |
Text (BAB I)
3) Bab 1.pdf Restricted to Registered users only Download (278kB) |
|
|
Text (BAB II)
4) Bab 2.pdf Restricted to Registered users only Download (649kB) |
|
|
Text (BAB III)
5) Bab 3.pdf Restricted to Registered users only Download (249kB) |
|
|
Text (BAB IV)
6) Bab 4.pdf Restricted to Registered users only Download (535kB) |
|
|
Text (BAB V)
7) Bab 5.pdf Restricted to Registered users only Download (525kB) |
|
|
Text (BAB VI)
8) BAB 6.pdf Restricted to Registered users only Download (170kB) |
|
|
Text (DAFTAR PUSTAKA & LAMPIRAN)
9) Hal Daftar Pustaka dan Lampiran.pdf Restricted to Registered users only Download (464kB) |
Abstract
PT. X ialah merupakan salah satu perusahaan yang bergerak dalam bidang manufaktur yaitu pembuatan mesin - mesin food dan pharmacy packaging. Salah satu mesin yang dihasilkan PT. X antara lain Mesin WS4RW. WS4RW adalah mesin pembuat wafer stick. Salah satu yang harus diperhatikan dalam wafer stick ialah kualitas rasa, bentuk serta kondisinya. Salah satu cara untuk mencapai hal tersebut adalah dengan menerapkan kinerja mesin yang baik, sehingga tidak adanya kecacatan saat produksi. Tujuan dari penelitian ini adalah untuk mengetahui jenis defect yang paling banyak terjadi dan faktor - faktor apa saja yang menjadi penyebab defect pada mesin WS4RW dan upaya perbaikan untuk mengurangi defect tersebut. Metode penelitian yang dilakukan adalah dengan mengumpulkan data defect yang ada kemudian diolah sehingga terbentuk akar permasalahan dan cara penanggulangannya. Kesimpulan pada penelitian ini adalah defect paling banyak terjadi pada bagian choco head dan safety mesin, faktor – faktor penyebab terjadinya defect yaitu tidak hanya pada konstruksi mesin dan juga dikarenakan human error. Kata Kunci : WS4RW, Wafer Stick, Defect.
| Item Type: | Thesis (S1) |
|---|---|
| Call Number CD: | V |
| NIM/NIDN Creators: | 41615120025 |
| Uncontrolled Keywords: | WS4RW, Wafer Stick, Defect |
| Subjects: | 700 Arts/Seni, Seni Rupa, Kesenian > 750 Painting and Paintings/Seni Lukis dan Lukisan > 758 Other Subjects/Subjel Lainnya > 758.6 Industrial and Technical Subjects/Subjek Industri dan Teknik |
| Divisions: | Fakultas Teknik > Teknik Industri |
| Depositing User: | SHAFAUSSARIRAH |
| Date Deposited: | 17 May 2024 06:32 |
| Last Modified: | 17 May 2024 06:32 |
| URI: | http://repository.mercubuana.ac.id/id/eprint/88715 |
Actions (login required)
 |
View Item |
