Analisa pengendalian kualitas terjadinya cacat pada produk wafer di PT CNW

Syaefudin, Cecep (2008) Analisa pengendalian kualitas terjadinya cacat pada produk wafer di PT CNW. S1 thesis, Universitas Mercu Buana.

Text (FULL TEXT) 41606120016 Cecep Syaefudin.pdf Restricted to Registered users only Download (2MB)

Abstract

ABSTRAK Pada masa sekarang ini perkembangan dan persaingan yang begitu pesat terutama di bidang perindustrian serta dituntut untuk menghasilkan produk-produk yang bermutu tinggi dengan keinginan konsumen. Untuk menghasilkan produk-produk yang bermutu tinggi sesuai dengan keinginan konsumen tersebut maka diperlukan suatu kegiatan pengendalian mutu. PT. CNW adalah perusahaan makanan yang memproduksi produk wafer. Pada penelitian ini membahas tentang pengendalian mutu untuk mencari faktor penyebab terjadinya cacat pada produk wafer. Dalam proses produksinya pihak perusahaan telah menerapkan pengendalian mutu, ini dibuktikan dengan adanya suatu bagian quality control, dimana bagian ini menangani mutu dari produk yang dihasilkan oleh perusahaan. Penerapan pengendalian mutu dapat dilakukan dengan cara pemeriksaan atau pengawasan terhadap produk itu sendiri serta dapat digunakan sebagai alat menajemen untuk memperbaiki mutu produk dan mengurangi jumlah produk cacat. Dari hasil penerapan peta kendali diperoleh hasil bahwa proses dalam keadaan tidak terkendali, sehingga perlu dilakukan perbaikan proses. Pada analisa diagram pareto menunjukan bahwa jenis cacat yang paling dominan adalah wafer coated dengan permukaan lapisan yang tidak merata. Kemudian setelah dianalisa dengan menggunakan diagram sebab akibat (fish bone) penyebab banyaknya reject dari wafer coated adalah kondisi coklat coating yang digunakan dengan kadar kekentalan yang tinggi (viscosity).

Actions (login required)

View Item